GB/T 44937.4-2024《集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法》解读全文

GB/T 44937.4-2024《集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法》解读全文

一、标准的基本信息

1. 标准编号：GB/T 44937.4-2024。

2. 发布日期：2024年12月31日。

3. 实施日期：2024年12月31日。

4. 发布单位：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会。

5. 主管部门：工业和信息化部（电子）。

6. 归口部门：全国集成电路标准化技术委员会（TC599）。

7. 英文标准名：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 4: Measurement of conducted emissions—1Ω/150Ω direct coupling method。

8. 起草人：崔强、付君、乔彦彬等。

9. 国际标准分类号：31.200（集成电路、微电子学）。

二、标准内容

1. 范围：本标准规定了使用1Ω阻性探头测量射频（RF）电流和150Ω耦合网络测量RF电压的方法，用于测量集成电路（IC）的传导电磁发射（EME），确保测量的可重复性和相关性。

2. 测量原理：通过无谐振的试验布置，测量IC引脚的RF电流和电压，评估其传导发射特性。

3. 试验条件与设备：明确了RF测量仪、电流探头、匹配网络等设备的技术要求。

4. 试验程序：详细规定了试验的步骤、试验报告的内容以及测量技术的评估方法。

5. 附录内容：包括探头验证程序、传导发射等级分类、汽车应用参考等级示例等。

三、标准应用场景

1. 集成电路设计与制造：为IC设计和制造企业提供标准化的传导发射测量方法，确保产品符合电磁兼容性要求。

2. 检测机构：为检测机构提供统一的测试方法，便于对集成电路的电磁发射特性进行准确评估。

3. 汽车电子领域：特别适用于汽车电子系统中集成电路的传导发射测量，确保其在复杂电磁环境中可靠运行。

4. 科研与教育：为高校和科研机构提供标准化的测量手段，促进集成电路电磁兼容性研究。

四、总结

1. GB/T 44937.4-2024标准为集成电路传导发射测量提供了系统化、规范化的技术指导。

2. 通过1Ω/150Ω直接耦合法，能够有效评估IC的电磁发射特性，确保其在复杂电磁环境下的兼容性。

3. 该标准的实施将推动集成电路行业的技术进步，为相关产业的高质量发展提供有力支撑。