GB/T 44937.8-2025《集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法》新标准

GB/T 44937.8-2025《集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法》新标准

一、标准的基本信息

1. 标准身份与时空坐标。 GB/T 44937.8-2025，全称《集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法》，英文名为 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 8: Measurement of radiated emissions—IC stripline method。该标准于2025年12月31日由国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会联合发布，定于2026年7月1日正式实施，全文20页、约2.3万字，大16开本。

2. 管理脉络与采标渊源。 标准由工业和信息化部提出，全国集成电路标准化技术委员会（SAC/TC 599）归口并执行，主管部门为工业和信息化部。其ICS国际分类号为31.200，中标分类号为L56。本标准等同采用（IDT）IEC 61967-8:2023国际标准，实现了我国IC电磁发射测量领域与国际电工委员会最新技术要求的精准对接。

3. 起草阵容与产业版图。 标准起草单位多达27家，涵盖中国电子技术标准化研究院、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国汽车工程研究院股份有限公司、中山大学等产学研用全链条机构。起草人包括付君、崔强、靳冬、吴建飞等32位专家，阵容之庞大，折射出我国集成电路电磁兼容标准化工作的深度与广度。

二、标准内容

1. 核心疆域与技术边界。 本标准规定了使用IC带状线在150 kHz至3 GHz频率范围内测量集成电路电磁辐射发射的完整方法。被测IC安装于带状线结构的有效导体与地平面之间的EMC试验板（PCB）上，通过构建可控的TEM波导环境，定量捕获芯片向空间辐射的射频骚扰能量。

2. 技术骨架与试验逻辑。 标准正文涵盖七大技术模块：试验条件（电源电压、频率范围）、试验设备（射频测量仪器、前置放大器、IC带状线、50Ω终端及系统增益校准）、试验布置（配置方案与EMC试验板设计）、试验程序（环境条件确认、运行检查、带状线射频特性验证、测量技术）、试验报告规范、IC发射参考电平定义，以及IC带状线物理描述的规范性附录A和发射电平规范的资料性附录B。

3. 规范引用与体系协同。 标准引用了IEC 60050-131（电路理论术语）、IEC 60050-161（电磁兼容术语）、IEC 61967-1（通用条件和定义）及IEC 61000-4-20（TEM波导试验技术）四项国际基础文件，确保与GB/T 44937系列其他部分——如TEM小室法、表面扫描法、1Ω/150Ω直接耦合法等——形成方法互补、数据可比的标准矩阵。

三、标准应用场景

1. 芯片研发的"电磁体检"。 在集成电路设计验证阶段，工程师可借助本标准对样片进行辐射发射摸底测试，于150 kHz至3 GHz宽频带内捕捉电磁泄漏热点，为封装优化、电源去耦和版图调整提供量化依据。短则数小时，长则数日，一条频谱曲线便可揭示硅片深处的电磁隐疾。

2. 检测认证的质量基石。 第三方检测机构与芯片制造商质检部门可将本标准作为型式试验的核心方法之一，对微控制器、电源管理IC、射频前端等器件实施批量抽检。IC带状线法因其结构紧凑、重复性好、成本可控，尤其适合产线端的快速筛选与认证端的仲裁复核。

3. 跨域协同与标准生态。 在汽车电子领域，本标准与GB/T 42968.8-2023（IC带状线法辐射抗扰度测量）形成"发射—抗扰"双轮驱动；在通信与物联网终端中，它与GB/T 44937.2（TEM小室法）、GB/T 44937.3（表面扫描法）互为补充，共同织就我国集成电路电磁兼容测试的方法网络。从新能源汽车到5G基站，从智能家居到工业控制，凡有芯片辐射之忧处，皆有此标准用武之地。

四、总结

1. 填补空白，对标国际。 GB/T 44937.8-2025的发布，标志着我国首次以国家标准形式系统规范了IC带状线法辐射发射测量技术，等同采用IEC 61967-8:2023，实现了从"跟跑"到"并跑"的关键一跃。

2. 方法独特，价值凸显。 相较于TEM小室法的宏大规模与表面扫描法的精细耗时，IC带状线法在频宽覆盖、结构紧凑与测试效率之间取得了精妙平衡，为芯片电磁发射评估提供了第三条可行路径。

3. 产业赋能，未来可期。 随着2026年7月1日实施日期的临近，这一标准将深度嵌入我国集成电路设计、制造、检测的全生命周期，成为保障芯片电磁兼容性、支撑信息产业高质量发展的又一技术利器。