GB/T 42968.4-2024《集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法》解读指南

GB/T 42968.4-2024《集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法》解读指南

一、标准的基本信息

GB/T 42968.4-2024《集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法》于2024年12月31日发布并实施。该标准由国家市场监督管理总局发布，由全国集成电路标准化技术委员会归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。其英文名称为“Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 4: Direct RF power injection method”，国际标准分类号为31.200。主要起草单位包括中国电子技术标准化研究院、南京容测检测技术有限公司等，主要起草人为张强、崔强等。

二、标准内容

本标准规定了在传导射频骚扰存在的情况下集成电路抗扰度的测量方法，例如由辐射射频骚扰引起的传导射频骚扰。它确保抗扰度测量的高度可重复性和相关性。标准涵盖了测量原理、试验条件、试验设备、试验布置以及试验程序等内容。其中，测量原理包括单引脚功率直接注入法和多引脚功率直接注入法。通过这些详细规定，为设备中的半导体器件在无用射频电磁波环境下工作时的评估建立公共基础。

三、标准应用场景

该标准适用于多种场景。在集成电路设计阶段，可通过射频功率直接注入法模拟实际使用中的电磁干扰，发现设计中的薄弱环节并进行改进。在汽车电子领域，它能快速准确地评估汽车电子设备的抗干扰能力，提高设备的稳定性和可靠性。此外，随着无线通信技术的快速发展，集成电路面临的射频干扰问题日益突出，该标准可有效指导设计优化，提升产品在复杂电磁环境中的抗扰能力。

四、总结

GB/T 42968.4-2024标准为集成电路电磁抗扰度测量提供了明确、规范的射频功率直接注入法，具有高度的可重复性和相关性。它不仅有助于提升集成电路产品的抗扰能力，还为相关测试提供了统一的依据，推动了行业的技术进步。