GB/T 44937.2-2025《集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法》解读

GB/T 44937.2-2025《集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法》解读

一、标准的基本信息

1. 标准编号与命名：GB/T 44937.2-2025，全称为《集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法》，英文名称 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 2: Measurement of radiated emissions—TEM cell and wideband TEM cell method。

2. 发布与实施：2025年12月31日由国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会联合发布，2026年7月1日起正式实施。

3. 主管部门与归口：由中华人民共和国工业和信息化部提出，全国集成电路标准化技术委员会（SAC/TC599）归口管理。

4. 采标情况：等同采用（IDT）IEC 61967-2:2005，属国际接轨型标准。

5. 起草阵容：中国电子技术标准化研究院牵头，联合浙江诺益科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司等单位共同起草。

6. 分类编码：ICS 31.200，中标分类号 L56。

二、标准内容

1. 核心定位：本标准聚焦于集成电路（IC）辐射发射的量化评估，以TEM小室与宽带TEM（GTEM）小室为测量载体，频率覆盖150 kHz至1 GHz，亦可延伸至小室自身特性所决定的更高频段。

2. 设备规范：TEM小室端口须与IC试验PCB尺寸匹配，VSWR须低于1.5；GTEM小室谐振频率通常高于2 GHz，同样要求VSWR<1.5。未连接仪器的50 Ω端口须以VSWR<1.1的终端阻抗匹配。系统增益准确度控制在±0.5 dB以内，频段内增益波动须包络于6 dB之内。

3. 试验架构：涵盖供电电压设定、屏蔽要求、射频测量仪器选型、前置放大器配置、试验PCB设计、DUT（被测器件）状态核查、环境噪声测量及发射数据采集等全流程。附录还提供了校准示例、偶极矩计算及发射数据规范等资料性内容。

4. 方法特色：利用TEM波导中的横电磁波模式，将IC辐射场耦合至接收端口，兼具屏蔽性与可重复性。宽带TEM小室拓展了高频测量边界，使单一装置即可覆盖从射频到微波的宽频诊断。

三、标准应用场景

1. 芯片研发验证：在流片后的电磁兼容（EMC）预评估阶段，设计人员可借助TEM小室快速捕捉IC在不同工作模式下的辐射峰值，定位高频噪声源，优化版图布局与电源完整性。

2. 第三方检测认证：质检机构、实验室依据本标准出具CMA/CNAS资质报告，服务于电商平台入驻、商超卖场准入、出口通关检验及国军标对标（对应SJ 21147.2-2016）等多元场景。

3. 汽车电子领域：中国汽车工程研究院的参与，折射出标准在车规级芯片中的特殊分量。车载ECU、ADAS模块、功率驱动IC等，均需在TEM小室中验证其辐射发射是否满足整车电磁兼容限值。

4. 仿真模型校准：与GB/T 44807.3-2025（ICEM-RE辐射发射建模）形成"测试—仿真"闭环，实测数据可用于修正IC电磁干扰特性仿真模型，提升虚拟验证的可信度。

四、总结

1. 里程碑意义：GB/T 44937.2-2025的出台，填补了国内IC级辐射发射测量方法的国家标准空白，使TEM小室法从"行业惯例"升格为"国家规范"。

2. 技术价值：等同采用IEC 61967-2:2005，既保障了国际互认，又通过VSWR、增益准确度等量化指标确保了测量复现性。

3. 产业辐射：从芯片设计、车规验证到检测认证，标准构建了一条贯穿半导体产业链的EMC技术基线，为国产集成电路的高质量发展提供了坚实的方法论支撑。