GB/T 44937.1-2025《集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义》最新解读

GB/T 44937.1-2025《集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义》最新解读

一、标准的基本信息

标准编号与名称：GB/T 44937.1-2025《集成电路 电磁发射测量 第1部分：通用条件和定义》，英文名为"Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 1: General conditions and definitions"。

发布与实施：2025年12月31日由国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会联合发布，2026年7月1日起正式实施。

主管部门与归口：主管部门为工业和信息化部（电子），归口单位为全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78）。

采标情况：等同采用（IDT）IEC 61967-1:2018国际标准，ICS分类号为31.200，中国标准分类号为L56。

起草团队：主要起草单位包括中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、广州市诚臻电子科技有限公司等二十余家机构；主要起草人包括崔强、付君、乔彦彬、方文啸、吴建飞、邢立文、朱赛、刘星汛、李腾飞等三十余位专家。

二、标准内容

适用范围与定位：本标准为GB/T 44937系列标准的"总纲"，规定了集成电路传导和辐射电磁发射测量的通用条件、术语定义、试验设备要求及试验程序，适用于150kHz至1GHz频率范围的射频骚扰定量测量，为后续各分部分测量方法提供统一基础。

核心术语体系：界定了IC电磁发射测量中的关键术语，包括射频骚扰、传导发射、辐射发射、TEM小室、法拉第笼、磁场探头等，建立了与国际电工词汇（IEC 60050-161）协调一致的术语框架，确保国内外技术交流的无歧义性。

试验条件与设备：规定环境温度控制在23°C±5°C，环境RF噪声电平须低于被测最低发射电平至少6dB；明确RF测量仪器（频谱分析仪/测量接收机）的带宽设置、检波器类型（峰值检波器用于窄带源）、前置放大器或衰减器的噪声系数要求（小于10dB），以及系统增益验证准确度（±0.5dB）。

试验布置与程序：规范了试验电路板（PCB）的设计要求、IC引脚负载配置、电源去耦方式；要求试验前进行环境背景噪声检查和运行检查；附录提供试验方法对照表（附录A）、计数器试验编码流程图（附录B）、最差情况应用软件描述（附录C）及通用基础试验板描述（附录D）。

三、标准应用场景

IC制造商的研发与品控：芯片设计企业可依据本标准建立统一的电磁发射测试环境，在流片前后对数字IC、模拟IC、混合信号IC及射频IC进行射频骚扰定量评估，通过对比不同设计方案的发射数据优化版图布局和电源去耦策略，从源头抑制电磁干扰。

第三方检测认证机构：检测机构可按照标准规定的试验条件、设备配置和报告格式开展IC电磁兼容（EMC）测试服务，为产品提供符合性评价。标准中"与标准偏离应在试验报告中明确注明"的要求，保障了测试过程的透明度和结果的可追溯性。

汽车电子与通信设备领域：随着汽车控制芯片、5G通信芯片对EMC性能要求日趋严苛，本标准与GB/T 42968（电磁抗扰度测量）、GB/T 44807（电磁兼容建模）系列标准协同使用，可系统评估车规级IC在复杂电磁环境下的发射特性，支撑智能网联汽车、工业物联网等高端装备的可靠性设计。

四、总结

标准价值凸显：GB/T 44937.1-2025的发布填补了我国集成电路电磁发射测量基础标准的空白，等同采用IEC 61967-1:2018确保了与国际先进水平的同步，为国产IC参与全球竞争提供了技术"通行证"。

体系化布局关键：作为GB/T 44937系列9个部分的"龙头"，本标准与第2至8部分（TEM小室法、表面扫描法、1Ω/150Ω耦合法、法拉第笼法、磁场探头法、IC带状线法等）形成完整测量方法矩阵，构建起覆盖辐射与传导、接触与非接触的全方位IC电磁发射评价体系。

实施前景广阔：2026年7月1日实施后，标准将广泛应用于IC设计验证、量产筛选、质量分级及用户选型等环节，对提升我国集成电路产业电磁兼容整体水平、保障电子信息设备电磁环境安全具有深远意义。